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缺陷呈基圓和十字交叉條形，適用于縱向和周向磁場 件號：519630 型號：KSC-230 件號：521048 型號：KSC-430 說明：標(biāo)準(zhǔn)I試片，缺陷深度為試片厚度的30%，試片厚度為0.002英寸標(biāo)準(zhǔn)I試片，缺陷深度為試片厚度的30%，試片厚度為0.004英寸
與KSC-230相似，于工件上的小區(qū)域，每片四個圓，可切割開，單獨使用 件號：519631 型號：KSC-4-230 說明：小型I試片，每片試片有4個基圓，缺陷深度為試片厚度的30%，試片厚度為0.002英寸
不同深度的I試片 用于定量要求更高的作業(yè)，缺陷呈三個不同深度的同心圓環(huán) 型號：KSCT-234 說明：不同深度I試片，缺陷深度分別為試片厚度的20%，30%，40%，試片厚度為0.002英寸，試片背面帶膠，可直接貼在工件上。
型號：KSC4-234 不同深度I試片，缺陷深度分別為試片厚度的20%，30%，40%試片厚度為0.004英寸
磁粉試棒 在兩個方向上有粗細(xì)不一的人工表面和次表面缺陷滿足和超過大部分工業(yè)和軍用對于人工試片的標(biāo)準(zhǔn)，包括MIL-STD-271
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